Theoretical characterisation of point defects on a MoS2 monolayer by scanning tunnelling microscopy
FI: 3,573
Tipo: Article
Artículo original/colaboración Colaboración
Año: 2016
Autores
Gonzalez, C; Biel, B; Dappe, YJ
Revista
Título: NANOTECHNOLOGY
Cuartil
- Q1
